Некоторые преимущества использования SEM-анализа (сканирующей электронной микроскопии) в материаловедении:

• Универсальность. 3 SEM может анализировать различные материалы, включая порошки, твёрдые материалы, покрытия, биологические образцы и волокна. 3
• Визуализация высокого разрешения. 3 SEM обеспечивает детальную визуализацию особенностей поверхности. 3 Трёхмерное изображение поверхности образца создаётся путём захвата множества изображений под разными углами. 3
• Элементный анализ. 3 Элементный состав определяется с помощью детекторов EDS (энергетическая дисперсионная рентгеновская спектроскопия) или WDS (волновая дисперсионная рентгеновская спектроскопия). 3
• Анализ отказов. 5 SEM помогает исследовать механизмы отказов после сбоев, таких как переломы, коррозия или другие формы повреждения в металлах и композитных материалах. 5
• Новая разработка материалов. 5 SEM позволяет подтвердить синтез новых материалов и оценить структуру и свойства наноматериалов, многослойных плёнок, нанокомпозитов и многого другого. 5
• Анализ покрытия. 2 Изучая изображения, полученные с помощью SEM, аналитики могут понять, чем покрыт образец и как это покрытие может влиять на его работу. 2