Почему внешний осмотр является важным этапом диагностики микросхем?

Внешний осмотр является важным этапом диагностики микросхем, потому что по его результатам можно обнаружить очевидные дефекты, которые указывают на неисправность. www.radioelementy.ru dzen.ru

Некоторые признаки, которые помогают выявить проблемы:

• Трещины или сколы на корпусе. www.smttech.ru Они могут возникнуть из-за внешнего механического воздействия (давления, удара) или неравномерного нагрева корпуса микросхемы при её пайке или во время работы. www.smttech.ru
• Обгоревший или отпавший вывод. www.smttech.ru dzen.ru Такое повреждение вызывает нарушение электрической схемы чипа и может быть вызвано скачком напряжения, тепловым воздействием (например, перегревом паяльником при ремонте), деформацией самой платы. www.smttech.ru
• Замыкание контактных выводов куском провода или излишком припоя. www.smttech.ru Часто это обусловлено нарушением технологии пайки или неаккуратным ремонтом. www.smttech.ru
• Образование дендритов (ветвистых отростков металла) около контактных площадок микросхемы или их коррозия, вызванная воздействием влаги или химических веществ. www.smttech.ru

Если внешний осмотр не выявил явных признаков неисправности, можно приступать к дальнейшей проверке. www.smttech.ru