Лавинное размножение заряда опасно для биполярных транзисторов, потому что может вызвать электрический пробой, который при возрастании тока может перейти в тепловой пробой. 4

В лавинном процессе ударной ионизации часто происходит нагрев из-за увеличения тока, что приводит к тепловому повреждению кристалла. 5