Какие преимущества дает использование технологий X-ray в проектировании микросхем?

Некоторые преимущества использования технологий X-ray в проектировании микросхем:

• Обнаружение скрытых дефектов. www.viasion.com www.raypcb.com Рентгеновский контроль позволяет выявить пустоты и трещины, которые не видны снаружи. hilelectronic.com Это помогает обнаружить проблемы до того, как они попадут в конечную продукцию. hilelectronic.com
• Точные измерения размеров. hilelectronic.com Технология позволяет создавать подробные 2D и 3D-модели внутренних частей печатной платы, точно отображая дефекты в их истинном местоположении. hilelectronic.com
• Неразрушающий метод. hilelectronic.com Рентгеновский контроль исключает риск повреждения плат или компонентов в процессе проверки. hilelectronic.com
• Анализ причин сбоев. hilelectronic.com Визуализация внутренних дефектов с помощью рентгеновского излучения помогает анализировать первопричины и корректирующие действия. hilelectronic.com
• Возможность сравнения изображений. ebics.net Рентгеновская съёмка позволяет сравнивать несколько изображений одного продукта, что помогает обнаружить любые изменения, сделанные в процессе производства. ebics.net
• Повышение надёжности и безопасности. www.viasion.com Обнаружение дефектов на начальных этапах производства увеличивает надёжность печатных плат и минимизирует опасность проблем безопасности в готовых продуктах. www.viasion.com