Какие методы расчета вероятности неисправности флеш-карт памяти существуют?

Некоторые методы расчёта вероятности неисправности флеш-карт памяти:

• Коэффициент неисправимых битовых ошибок (UBER). 2 Это показатель надёжности, который отражает ошибки, возникающие при чтении/записи и не исправляемые контроллером. 2
• Зависимость числа ошибок от срока эксплуатации (числа циклов записи). 2 Срок жизни флеш-карты зависит от количества циклов записи, которое строго лимитировано в рамках используемой технологии. 2 Количество наблюдаемых ошибок возрастает пропорционально объёму записанных на флешку данных. 2
• Зависимость вероятности возникновения ошибок от «истории» накопителя. 2 Например, если в течение недели наблюдалась хотя бы одна ошибка, то с вероятностью 99,8% на следующей неделе также можно ожидать возникновение ошибки на этом накопителе. 2
• Корреляция между вероятностью возникновения ошибки и числом SSD-плат в системе. 2 Для конфигураций с двумя накопителями вероятность сбоя возрастает. 2

Для проверки флеш-карты на наличие ошибок также используют специальные инструменты, например H2testw и CrystalDiskInfo. 3