Некоторые факторы, влияющие на срок хранения цифровых микросхем:

• Влажность. 1 Высокий уровень влажности способствует повреждению компонентов, приводит к их окислению, коррозии и короткому замыканию. 1
• Температура. 1 Постоянные высокие температуры могут стать причиной отказа электронных компонентов, а также сократить срок службы внутреннего оборудования. 1 Циклическое изменение температуры и влажности может ускорить процессы износа. 1
• Статическое электричество. 1 Электростатический разряд (ESD) возникает при внезапном прохождении электрического тока между двумя объектами с разным электрическим потенциалом. 1 Этот разряд приводит к необратимому повреждению или даже полному отказу чувствительных электронных компонентов. 1
• Пыль и загрязнения. 1 Чрезмерное количество этих частиц на электрических компонентах может привести к различным проблемам, включая проблемы с проводимостью между внутренними компонентами или возникновение дуги и нагара в электронике высокого напряжения. 1
• Механические повреждения. 1
• Радиация. 2 Вызывает необратимую деградацию электрофизических параметров полупроводника. 2
• Техпроцесс и структура чипов. 4 Вместе с уменьшением размера встроенных полупроводниковых элементов и увеличением их числа возрастает риск выхода микросхем из строя. 4
• Качество микросхем. 4 Определяющим качеством микросхем являются оборудование, используемые материалы и применяемые технологии. 4

Для различных типов электронных компонентов диапазоны температур и влажности различны и могут варьироваться в зависимости от рекомендаций конкретного производителя. 1