Технология EUV-фотолитографии влияет на развитие микроэлектроники несколькими способами:
  - Позволяет изготавливать микросхемы с чрезвычайно малыми размерами элементов.                                                                          dzen.ru                       В стандартных EUV-фотолитографах размеры элементов составляют от 13 нм, в машинах с высокой числовой апертурой — до 8 нм.                                                                          dzen.ru                       
  - Способствует созданию микросхем с многоуровневыми межсоединениями и контактами.                                                                          russianelectronics.ru                                                                                               www.syntezmicro.ru                       Для технологий 7, 5 и 3 нм количество слоёв, требующих применения EUV-сканеров, увеличивается с 5–6 до 10 и даже 20.                                                                          russianelectronics.ru                                                                                               www.syntezmicro.ru                       
  - Стимулирует переход к вертикальному размещению элементов.                                                                          russianelectronics.ru                       Улучшение производительности чипа и сокращение площади достигается за счёт вертикального, а не горизонтального размещения элементов.                                                                          russianelectronics.ru                       
  
 Однако у технологии есть и недостатки: очертания отдельных компонентов транзистора на чипах, изготовленных EUV-способом, характеризуются нечёткими, грубыми линиями.                                                                          3dnews.ru                       Из-за этого возрастает вероятность получения полупроводниковых элементов ненадлежащего качества.                                                                          3dnews.ru