Основное различие между Transmission Electron Microscopy (TEM) и Scanning Electron Microscopy (SEM) заключается в том, что TEM и SEM создают разные типы изображений. 12

TEM использует для создания изображения проходящие через образец электроны, что позволяет получать информацию о внутренней структуре образца, включая кристаллическую структуру, морфологию и состояние напряжения. 1 Образцы для TEM должны быть очень тонкими (обычно менее 150 нм), в то время как для SEM таких требований нет. 1

SEM, в свою очередь, создаёт изображение, обнаруживая отражённые или отбитые электроны. 1 Эта техника позволяет видеть поверхность практически любого образца, от промышленных металлов до биологических образцов, таких как споры, насекомые и клетки. 4

Некоторые другие различия между TEM и SEM:

• Разрешение изображений: SEM может достигать разрешения около 0,5 нм, в то время как TEM позволяет получать изображения с пространственным разрешением даже менее 50 пм. 1
• Объём изображения: SEM создаёт 3D-изображение поверхности образца, в то время как TEM выдаёт 2D-проекции образца. 1
• Подготовка образцов: SEM не требует значительных усилий для подготовки образцов, в то время как подготовка образцов для TEM — сложный и утомительный процесс, который могут успешно выполнить только опытные пользователи. 1
• Стоимость и доступность: SEM обычно дешевле и проще в использовании, чем TEM. 5

Выбор между TEM и SEM зависит от конкретных требований анализа: TEM предпочтительнее для изучения внутренней структуры, а SEM — для поверхностного анализа. 15