Некоторые преимущества сканирующей электронной микроскопии (СЭМ) по сравнению с традиционной световой микроскопией:

• Более широкий диапазон увеличений. 3 Сила увеличения СЭМ может достигать 300 000 раз, что в десятки раз превышает разрешающую способность оптического прибора. 1
• Возможность создать большую глубину резкости. 1 При этом большие объекты удаётся получить в фокусе чёткими и ровными. 1
• Неразрушающий метод анализа. 3 Образец в камере СЭМ не сжигается, вещество образца не испаряется от воздействия пучка электронов. 3
• Возможность создавать качественные фотографии. 1 СЭМ даёт детальное трёхмерное изображение поверхности образца, что позволяет создавать качественные фотографии для анализа таких характеристик, как морфология, текстура, распределение частиц и структура ткани образца. 2