Основные отличия фазово-контрастной микроскопии от сканирующей электронной:

1. Принцип работы:

• Фазово-контрастная микроскопия основана на преобразовании сдвигов фаз световой волны в контраст интенсивности, что позволяет получать изображения прозрачных объектов, в том числе живых клеток в их естественном состоянии. 26
• Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) использует электронный пучок разной энергии, который фокусируется на исследуемом образце в виде пятна диаметром не более 5 нм и сканирует всю поверхность объекта. 57

1. Объекты исследования:

• Фазово-контрастная микроскопия подходит для изучения неокрашенных объектов, которые отличаются от окружающей среды только показателем преломления. 9
• Сканирующая электронная микроскопия работает только с твёрдыми образцами, которые можно погружать в вакуум. 7

1. Контрастность изображения:

• При фазово-контрастной микроскопии контрастность достигается путём преобразования фазовых изменений световой волны в амплитудные, видимые глазу. 9
• В СЭМ для повышения контрастности изображения объекта используют различные способы контрастирования, например обработку солями тяжёлых металлов. 2