Метод рентгеновской кристаллографии (рентгеноструктурный анализ) заключается в использовании рентгеновских лучей для выявления молекулярной структуры кристалла. 5

Суть метода основана на явлении рентгеновской дифракции — рассеяния пучка рентгеновских лучей атомной структурой кристалла. 5

Процесс происходит так: кристаллический образец облучают рентгеновскими лучами. 5 Расстояние между плоскостями атомов в кристалле либо усиливает, либо ослабляет рентгеновские лучи. 5 Когда луч усиливается, возникающий луч создаёт пятно на фотоплёнке. 5 Рисунок пятен служит учёным для установления точной структуры молекулы. 5

Некоторые возможности метода:

• идентификация материала на основе его дифракционной картины; 3
• измерение средних расстояний между слоями рядов атомов в веществе; 3
• определение ориентации отдельного зерна или кристалла; 3
• измерение размера, формы и внутреннего напряжения небольших кристаллических областей; 3
• определение кристаллической структуры неизвестного вещества; 3
• получение информации об отклонениях фактической структуры от идеальной; 3
• определение параметров решётки; 3
• фазовый анализ в случае поликристаллических материалов и соединений. 3

Рентгеновская кристаллография применяется в разных научных областях, например, для изучения минералов и сплавов, биологических молекул (витаминов, лекарственных препаратов, белков и нуклеиновых кислот). 1