В чем разница между растровой и просвечивающей электронной микроскопией?

Разница между растровой и просвечивающей электронной микроскопией заключается в принципах работы и областях применения.

Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ, трансмиссионная) основана на взаимодействии ускоренных электронов с ультратонкими образцами толщиной менее 0,1–0,2 мкм. melytec-testing.ru Изображение создаётся в результате прохождения пучка электронов через образец и их взаимодействия. habr.com arstek.ru ПЭМ позволяет исследовать структуру материалов на нанометровом уровне, получать информацию о кристаллической структуре, выявлять дефекты кристаллической решётки, анализировать границы зёрен и фазовые составляющие. melytec-testing.ru

Растровая электронная микроскопия (РЭМ, сканирующая) создаёт изображения поверхности образца при отражении от неё пучка электронов. habr.com arstek.ru Также от такого взаимодействия можно получить представление о составе образца. arstek.ru Поскольку РЭМ отображают только внешнюю часть образца, они обеспечивают более низкое разрешение изображения, чем ПЭМ. habr.com arstek.ru Однако по сравнению со световыми микроскопами, РЭМ могут обеспечить высокое качество трёхмерных изображений поверхности образца. arstek.ru

Таким образом, ПЭМ ориентирован на изучение внутренней структуры образцов, а РЭМ — на исследование поверхности и получение информации о её составе и строении.