В чем разница между радиационными испытаниями аналоговых и цифровых микросхем?

Возможно, имелись в виду различия в подходах к радиационным испытаниям аналоговых и цифровых микросхем.

Для аналоговых микросхем при радиационных испытаниях важен контроль работоспособности в процессе облучения и точное определение параметров микросхемы до и после воздействия радиации. www.mes-conference.ru Для таких устройств значимы, например, тиристорный эффект (SEL) и кратковременные сбои (SEU). www.mes-conference.ru

Для цифровых микросхем при радиационных испытаниях важны, в частности, логические уровни нуля и единицы, токи потребления, функциональный контроль, возникновение тиристорного эффекта и катастрофических отказов, а также одиночные радиационные эффекты. elar.urfu.ru В таких схемах радиация может вызывать случайные изменения состояния логических элементов, что приводит к сбоям в работе процессоров, памяти и других цифровых устройств. ek-top.ru

Таким образом, при радиационных испытаниях аналоговых микросхем акцент сделан на контроле работоспособности и основных параметров устройства, а при тестировании цифровых микросхем — на изучении влияния радиации на логику работы и специфические для цифровых устройств аспекты.