В чём преимущества сканирующей электронной микроскопии по сравнению с другими методами исследования материалов?

Некоторые преимущества сканирующей электронной микроскопии по сравнению с другими методами исследования материалов:

• Прямое мгновенное формирование изображения. elar.urfu.ru Это позволяет наблюдать быстропротекающие процессы. elar.urfu.ru
• Широкий диапазон легко изменяемых увеличений. elar.urfu.ru
• Большая глубина фокуса при высоком разрешении. elar.urfu.ru Это даёт возможность отчётливо и одновременно наблюдать мельчайшие объекты и их агломераты, сильно отличающиеся по размерам. elar.urfu.ru
• Возможность дифракционного исследования. elar.urfu.ru Это позволяет получать разнообразную информацию о внутренней структуре любого объекта конденсированного состояния: строении, упорядочении, дефектности и т. п.. elar.urfu.ru
• Возможность микрорентгеноспектрального (элементного) анализа и фазового анализа. elar.urfu.ru
• Относительная лёгкость в интерпретации полученных изображений благодаря их трёхмерному представлению. fundamental-research.ru
• Сравнительно низкие требования к пробоподготовке. fundamental-research.ru