В чём отличие сканирующего туннельного микроскопа от оптического микроскопа?

Основное отличие сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) от оптического микроскопа заключается в принципе работы и используемых физических процессах для получения изображения. 23

В СТМ для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением используется острая металлическая игла, которая подводится к образцу на расстояние нескольких ангстрем (0,1 нм). 17 При подаче на иглу относительно образца небольшого потенциала возникает туннельный ток. 17

В оптическом микроскопе для получения увеличенного изображения используются дифракция, отражение и преломление электромагнитного излучения (света) при взаимодействии с исследуемым объектом и последующая регистрация излучения для построения изображения. 2 Для этого расходящийся пучок света проходит сквозь образец, полученное изображение увеличивается объективом, преломляется для поступления в тубус окуляра, где увеличивается ещё раз. 5 После этого пучок света поступает на сетчатку глаза, формируя картинку. 5