В чём отличие атомно-силового микроскопа от других видов сканирующих микроскопов?

Некоторые отличия атомно-силового микроскопа (АСМ) от других видов сканирующих микроскопов:

• От сканирующего туннельного микроскопа. ru.ruwiki.ru fpd.informsystema.ru В АСМ сканирование исследуемого образца происходит по «поверхности постоянной силы», а в сканирующем туннельном микроскопе — по поверхности постоянного туннельного тока. fpd.informsystema.ru В отличие от СТМ, с помощью АСМ можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. ru.ruwiki.ru fpd.informsystema.ru
• От растрового электронного микроскопа (РЭМ). ru.ruwiki.ru fpd.informsystema.ru В отличие от РЭМ, который даёт псевдотрёхмерное изображение поверхности образца, АСМ позволяет получить истинно трёхмерный рельеф поверхности. ru.ruwiki.ru fpd.informsystema.ru Кроме того, для нормальной работы РЭМ требуется вакуум, в то время как большинство режимов АСМ могут быть реализованы на воздухе или даже в жидкости. ru.ruwiki.ru fpd.informsystema.ru
• От сканирующего электронного микроскопа. habr.com АСМ регистрирует различные силы между зондом и образцом, позволяет получить топографию поверхности и её механические свойства. habr.com В отличие от сканирующего электронного микроскопа, АСМ способен определять рельеф поверхности с разрешением от нанометра и выше. ru.ruwiki.ru ru.wikipedia.org