Метод Ритвельда считается одним из точных методов анализа кристаллических материалов по нескольким причинам:

• Возможность расчёта теоретической дифрактограммы. 2 Для этого необходимы знания о кристаллогеометрических параметрах фазы (периоды решётки, расположение атомов, заселённость узлов и т. п.) и особенностях рентгенодифракционного эксперимента (спектр излучения трубки, геометрия съёмки и т. п.). 2
• Минимизация влияния перекрытых и вырожденных пиков. 5 Это происходит за счёт расчёта полного профиля дифрактограммы кристаллической модели, включая различные зависимости параметров пиков от условий проведения эксперимента и состояния образца. 5
• Снижение ошибок в определении фона. 1 Фон вычисляется предварительно и вычитается из экспериментальных интенсивностей, либо включается в полную процедуру уточнения. 1
• Отсутствие необходимости в эталонах фазового состава. 2 Это важно при изучении сложных систем. 2
• Возможность исследования многофазных образцов. 1 Метод позволяет работать с образцами, содержащими 7 и более фаз. 1

Также метод Ритвельда предполагает оценку корректности и достоверности проведённого расчёта с помощью R-факторов (факторов сходимости, невязки). 4 Они показывают, как уточняемая модель структуры кристалла согласуется с массивом дифракционных данных. 4