Дифракция рентгеновских лучей используется в рентгеноструктурном анализе кристаллов, потому что позволяет исследовать структуру вещества. 24

В основе метода лежит явление дифракции рентгеновских лучей на трёхмерной кристаллической решётке. 4 При рассеянии лучей отдельными атомами или электронами происходит сложение (интерференция) рентгеновских волн. 3 Структура наблюдаемой дифракционной картины определяется закономерностями расположения атомов и молекул. 2

Рентгеноструктурный анализ позволяет определять атомную структуру вещества, включающую в себя пространственную группу элементарной ячейки, её размеры и форму, а также группу симметрии кристалла. 4 Кроме того, тонкая структура дифракционных рефлексов и их форма содержат информацию о реальной структуре кристалла, то есть о дефектах кристаллической решётки: типе, количестве и распределении дефектов в объёме кристалла. 1