Каковы преимущества и недостатки сканирующего туннельного микроскопа при исследовании проводящих металлов и полупроводников?

Некоторые преимущества сканирующего туннельного микроскопа (СТМ) при исследовании проводящих металлов и полупроводников:

• Неразрушающий контроль объекта. edu.kstu.kz Энергия электронов, формирующих изображение, не превышает нескольких электронвольт, что меньше энергии типичной химической связи. edu.kstu.kz
• Возможность изучать особенности плотности состояний в различных областях образца с субмикронными размерами. elib.spbstu.ru Это важно для диагностики полупроводниковых наноструктур и материалов, которые используются для создания приборов наноэлектроники. elib.spbstu.ru
• Способность выполнять локальные измерения. en.wikipedia.org Например, плотность состояний в месте примеси можно сравнить с плотностью состояний вокруг примеси и в других местах на поверхности. en.wikipedia.org
• Возможность записывать изображения с высокой частотой кадров. en.wikipedia.org Видеоролики, сделанные из таких изображений, могут показывать поверхностную диффузию или отслеживать адсорбцию и реакции на поверхности. en.wikipedia.org

Некоторые недостатки СТМ:

• Сложность интерпретации результатов измерений некоторых поверхностей. prezi.com
• Ограничения в использовании. edu.kstu.kz Например, поверхностное сопротивление образца должно быть не больше 20 МОм/см², а глубина канавки должна быть меньше её ширины. edu.kstu.kz
• Необходимость в специальных условиях. en.wikipedia.org Для работы СТМ требуются чистые и устойчивые поверхности, острые наконечники, отличная виброизоляция и сложная электроника. en.wikipedia.org
• Возможность изучения только материалов, хорошо проводящих электрический ток. prezi.com