Каковы основные методы вычисления вероятности скрытых дефектов в произведенных товарах?

Некоторые методы вычисления вероятности скрытых дефектов в произведённых товарах:

• Стратификация. 1 Это процесс сортировки данных согласно некоторым критериям или переменным. 1 Все данные в подгруппе объединяют по наличию общих характеристик. 1
• Гистограмма. 1 Это один из вариантов столбчатой диаграммы. 1 При заполнении графика возможных значений параметра можно выяснить, насколько часто данный параметр попадает в возможный интервал или выходит за его пределы. 1
• FMEA-анализ. 23 Это технология анализа возможности возникновения дефектов и их влияния на потребителя. 2 FMEA-анализ проводится для разрабатываемых изделий и процессов, его результат — снижение риска потребителя от потенциальных дефектов. 2
• Диаграммы Исикавы. 2 Их строят для каждой из функций объекта, связанных с появлением дефектов. 2
• Ускоренные ресурсные испытания (ALT). 4 Суть метода — симуляция предельных воздействий. 4 Изделие должно выдержать их в процессе хранения, транспортировки и эксплуатации в соответствии с требованиями технических условий. 4
• Физические методы неразрушающего контроля. 5 К ним относятся акустический, магнитный, радиационный, капиллярный и вихретоковый методы. 5