Некоторые методы измерения объектов на нанометровом уровне:
Растровый электронный микроскоп (РЭМ). ru.wikipedia.org ru.ruwiki.ru Позволяет проводить псевдотрёхмерную визуализацию поверхности, измерять линейные размеры и составлять карты объектов по составу, строению и люминесцентным свойствам с разрешением порядка 1–10 нм. ru.wikipedia.org
Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ). ru.wikipedia.org ru.ruwiki.ru Помогает исследовать структуру нанообъектов на просвет (электронным пучком) и их фазовый состав с субатомарным разрешением. ru.wikipedia.org
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ). ru.wikipedia.org Позволяет исследовать рельеф проводящей поверхности с атомарным разрешением. ru.wikipedia.org
Автоионный и автоэлектронный проектор. ru.wikipedia.org Даёт изображение поверхности проводящих твёрдых тел, имеющих форму острой иглы, с атомарным разрешением. ru.wikipedia.org
Порошковая рентгеновская дифракция. ru.wikipedia.org Помогает определить фазовый состав порошка, охарактеризовать его текстуру и размеры кристаллитов каждой из фаз. ru.wikipedia.org
Метод БЭТ, метод BJH. ru.wikipedia.org Помогает определить удельную площадь поверхности вещества в газовой среде, в том числе нанообъектов с развитой поверхностью и пористых материалов. ru.wikipedia.org
ЯМР-спектроскопия. ru.wikipedia.org Позволяет определить химический состав веществ, в том числе учесть долю вещества на границе фаз. ru.wikipedia.org
Сканирующий классификатор подвижности частиц (SMPS). ru.wikipedia.org Помогает охарактеризовать распределение концентрации в газовой среде нано- и микрочастиц по размеру с точки зрения подвижности заряженных частиц. ru.wikipedia.org
Примеры полезных ответов Поиска с Алисой на вопросы из разных сфер. Вопросы сгенерированы нейросетью YandexGPT для актуальных тем, которые определяются на базе обобщённых запросов к Поиску с Алисой.