Какие существуют методы измерения контактной разности потенциалов в полупроводниках?

Некоторые методы измерения контактной разности потенциалов в полупроводниках:

• Измерение температурной зависимости прямого тока через контакт или спектральной зависимости фототока в контакте. yandex.ru Затем проводят графическую обработку полученных зависимостей, чтобы определить высоту потенциального барьера в контакте и концентрацию основных носителей заряда в полупроводнике. yandex.ru По этим данным вычисляют контактную разность потенциалов. yandex.ru
• Измерение ёмкости контакта. yandex.ru На контакт подают регулируемое прямое смещение и регистрируют величину ёмкости контакта. yandex.ru Напряжение смещения изменяют до тех пор, пока ёмкость не перестанет зависеть от смещения. yandex.ru Затем фиксируют величину напряжения смещения, которая по абсолютной величине равна контактной разности потенциалов. yandex.ru
• Метод вибрирующего конденсатора (Зисмана-Кельвина). patents.google.com В соединительную цепь включают источник напряжения постоянного тока и измеритель переменного тока. patents.google.com Один из материалов, который служит измерительным электродом, приводят в вибрирующее движение. patents.google.com Это позволяет периодически менять величину электрической ёмкости между измеряемыми поверхностями. patents.google.com
• Фотоэлектрический метод. elib.pnzgu.ru Основан на тесной связи фотоэффекта с работой выхода электрона в исследуемых образцах. elib.pnzgu.ru