Некоторые методы анализа электронных схем:

• Анализ параметрической чувствительности. 1 Позволяет определить степень влияния изменения внутренних параметров схемы на выходные. 1
• Статистический анализ. 1 Помогает найти характеристики схемы при статистическом отклонении параметров элементов. 1 В результате можно построить гистограммы выходных параметров и определить границы отбраковки годных изделий. 1
• Анализ на наихудший случай. 1 Предполагает расчёт выходных параметров схемы при наихудшем сочетании внутренних параметров. 1
• Анализ влияния внешней среды. 1 Заключается в расчёте влияния температуры, давления, влажности и других факторов на выходные параметры. 1
• Многовариантный анализ. 1 Позволяет провести расчёт схемы при различных комбинациях параметров элементов за один сеанс. 1 В результате разработчик получает результаты расчёта совокупности схем и может выбрать наилучший вариант. 1
• Метод эквивалентных схем. 4 Основан на замене эквивалентной схемой, которая состоит из управляемых источников тока или напряжения, а также двухполюсных пассивных элементов, усилительного элемента начальной схемы. 4
• Метод четырёхполюсника. 4 Сложную схему представляют в виде эквивалентного четырёхполюсника, а эквивалентный четырёхполюсник заменяют на более простые. 4
• Матричный метод. 4 Позволяет получить матрично-векторные параметры схемы из самой схемы, без применения замещения эквивалентной схемой. 4 Необходимые вторичные параметры, напряжения и токи определяются через матрицы проводимости или сопротивления исследуемой схемы. 4
• Метод ориентированных графов. 4 Применяется для представления электронной схемы в виде топологической структуры. 4 Ориентированный граф состоит из большого количества направленных цепей и вершин. 4 Переход от исходной схемы к ориентированному графу производится на основе уравнений схемы, а также зависимости между напряжениями и токами. 4