Некоторые современные методы, которые используются в электронной микроскопии тканей:

• Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ). 3 На объект воздействует пучок ускоренных электронов. 3 Электроны, которые образец не пропустит, отклоняются на небольшой угол. 3 Те, которые пройдут через исследуемый объект с незначительными энергетическими потерями, попадают на магнитные линзы. 3 В результате на фотоплёнке или люминесцентном экране формируется изображение внутренней структуры. 3
• Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ). 3 Сфокусированный электронный пучок средней энергии сканирует образец. 3 Предусмотрено несколько режимов работы: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминиценции и другие. 3 Эти методики позволяют не только изучать свойства поверхности, но и получать наглядную информацию о структурах, расположенных на несколько микрон ниже верхнего слоя. 3
• Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения (ВРЭМ). 3 Формируется в случае, когда пучок электронов падает параллельно оси кристаллов в условиях фазового контраста. 3 Позволяет диагностировать даже мельчайшие неоднородности кристаллической решётки. 3
• Криоэлектронная микроскопия. 2 Позволяет визуализировать тонкие участки целых клеток, выращенных сразу на сеточках. 2
• Метод замораживания-скалывания. 2 Применяется для анализа поверхности. 2

Также в электронной микроскопии используется компьютерная техника для математической обработки изображений: изображения можно запоминать, корректировать контрастность, добавлять оттенки цветов, выделять микроструктуры и другие. 3