В основе рентгеноструктурного анализа кристаллических структур лежат следующие принципы:
- Способность веществ рассеивать падающее на них излучение, в том числе рентгеновское. xumuk.ru При этом рассеяние рентгеновских лучей кристаллами находится в определённом соответствии с расположением атомов в кристалле. xumuk.ru
- Строгая упорядоченность расположения молекул в кристалле. xumuk.ru В кристалле имеются миллиарды молекул, одинаково расположенных по отношению к падающему лучу и дающих одинаковые, усиливающие друг друга рассеянные лучи. xumuk.ru
- Дифракция рентгеновских лучей. moodle.kstu.ru При взаимодействии первичных рентгеновских лучей с электронами вещества возникают вторичные отклонённые пучки той же длины волны. moodle.kstu.ru Направление и интенсивность вторичных пучков зависят от строения рассеивающего объекта. moodle.kstu.ru
- Закон постоянства углов. study.urfu.ru Во всех кристаллах данного вещества при одинаковых условиях (то есть при одинаковых температуре и давлении и при одинаковой модификации кристаллической решётки) углы между соответствующими плоскостями кристаллов постоянны. study.urfu.ru
На основе этих принципов рентгеноструктурный анализ позволяет установить симметрию, тип и периоды кристаллических решёток чистых веществ, химических и интерметаллических соединений, фаз, образующих сплавы. study.urfu.ru