Некоторые преимущества сканирующего электронного микроскопа (СЭМ) перед просвечивающим (ПЭМ) в изучении клеточных структур:
Изучение поверхности образца. junct.ru СЭМ не требует ультратонких образцов, что делает его идеальным для анализа наноматериалов, микросхем, пыльцы и других объектов. junct.ru
Возможность получения трёхмерных изображений. sernia.ru scfh.ru В отличие от ПЭМ, СЭМ позволяет не только изучать свойства поверхности, но и получать наглядную информацию о структурах, расположенных на несколько микрон ниже верхнего слоя. sernia.ru
Большая глубина резкости. junct.ru СЭМ создаёт детализированные, почти трёхмерные изображения поверхности, что делает их очень информативными. junct.ru
Анализ физико-химических свойств образцов. melytec-testing.ru СЭМ позволяет получать не только детализированные изображения, но и анализировать элементный состав, кристаллическую структуру и другие свойства исследуемых образцов. melytec-testing.ru
Примеры полезных ответов Поиска с Алисой на вопросы из разных сфер. Вопросы сгенерированы нейросетью YandexGPT для актуальных тем, которые определяются на базе обобщённых запросов к Поиску с Алисой.