Просвечивающий электронный микроскоп (ПЭМ). 5 Изображение от ультратонкого объекта формируется в результате взаимодействия пучка электронов с веществом образца с последующим увеличением магнитными линзами и регистрацией на флуоресцентном экране. 5
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ). 14 Работает на основе принципа взаимодействия электронного пучка с поверхностью образца, что позволяет получить высококачественные и детальные изображения. 4
Электронный микроскоп с передачей (TEM). 4 Работает путём пропускания электронного пучка через тонкий образец и измерения изменения интенсивности прошедших электронов. 4 Предоставляет чёткое и детальное изображение внутренней структуры образца. 4
Электронный микроскоп со сканированием (SEM). 4 Работает путём сканирования поверхности образца электронным пучком и регистрации отражённых или испускаемых электронов. 4 Предоставляет трёхмерное изображение поверхности образца с высокой разрешающей способностью. 4
Электронный микрозонд. 3 Похож на СЭМ, но больше предназначен для химического анализа. 3
Низкоэнергетическая электронная микроскопия (LEEM). 3 Используется для получения изображений поверхностей. 3
Фотоэмиссионная электронная микроскопия (ПЭЭМ). 3 Использует электроны, испускаемые с поверхностей фотонами. 3
Ответ сформирован YandexGPT на основе текстов выбранных сайтов. В нём могут быть неточности.
Примеры полезных ответов Нейро на вопросы из разных сфер. Вопросы сгенерированы нейросетью YandexGPT для актуальных тем, которые определяются на базе обобщённых запросов к Нейро.