Некоторые методы статистического анализа, которые применяются для оценки надёжности электроники:

• Статистические методы прогнозирования. 1 На основе полученных статистических данных об определённом типе электронных устройств с помощью математических методов получают правило для отбраковки потенциально ненадёжных экземпляров или отбора экземпляров повышенного уровня надёжности. 1
• Метод имитационных воздействий. 1 Позволяет по реакции функционального параметра электронного устройства на имитационное воздействие в начальный момент времени, например на температуру, сделать прогноз значения параметра на заданный будущий момент времени. 1
• Физико-статистические модели деградации. 1 Позволяют с вероятностной точки зрения описать поведение функционального параметра выборки изделий для заданной наработки и выполнить количественную оценку уровня параметрической надёжности выборки. 1
• Методы выборочного контроля. 2 Позволяют оценивать качество партии на основе статистических данных. 2 Например, метод принятия решений по выборке помогает определить, сколько изделий из выборки должно быть проверено и какие критерии приёмки применяются. 2
• Контрольные карты. 2 Такие как X-bar и R-карты, используются для мониторинга процесса в реальном времени. 2 Они помогают визуализировать данные и определять, находится ли процесс под контролем. 2