Какие методы применяются в сканирующей зондовой микроскопии для изучения микроструктур?

В сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) для изучения микроструктур применяют различные методы, среди которых:

• Метод постоянной тока (МПТ). moodle.kstu.ru В процессе сканирования с помощью системы обратной связи поддерживают постоянную величину туннельного тока. moodle.kstu.ru Вертикальное смещение сканера отражает рельеф поверхности. moodle.kstu.ru
• Метод постоянной высоты (МПВ). moodle.kstu.ru Сканер перемещает зонд только в плоскости, изменения тока между остриём зонда и поверхностью образца отражают рельеф поверхности. moodle.kstu.ru Этот метод применяют к образцам с очень ровной поверхностью. moodle.kstu.ru
• Силовая спектроскопия. pimi.bntu.by Статический или динамический (колеблющийся) зонд сближается с поверхностью образца в заранее выбранной точке в пределах участка сканирования. pimi.bntu.by Регистрируют силы, действующие на острие в зависимости от перемещения зонда. pimi.bntu.by
• Метод модуляции силы. moodle.kstu.ru Широко используется при исследованиях полимеров, полупроводников, биообъектов, в особенности при исследованиях композитов. moodle.kstu.ru
• Сканирующий магнитооптический микроскоп (СМОМ). www.dissercat.com Позволяет изучать магнитные свойства поверхности за счёт магнитооптического эффекта Керра. www.dissercat.com

Общим для всех методов СЗМ является наличие заострённого зонда, который работает с поверхностью образцов. moodle.kstu.ru