Какие методы применяются для измерения рельефа поверхности в сканирующей микроскопии?

Некоторые методы, которые применяются для измерения рельефа поверхности в сканирующей микроскопии:

• Растровое сканирование. site-285580.mozfiles.com Зонд движется над образцом вдоль определённой линии (строчная развёртка). site-285580.mozfiles.com Величина сигнала на исполнительном элементе, пропорциональная рельефу поверхности, записывается в память компьютера. site-285580.mozfiles.com Затем зонд возвращается в исходную точку и переходит на следующую строку сканирования (кадровая развёртка), и процесс повторяется вновь. site-285580.mozfiles.com
• Особенность-ориентированное позиционирование (ООП). www.electronics.ru Метод прецизионного перемещения зонда сканирующего микроскопа по исследуемой поверхности, при котором особенности поверхности используются в качестве опорных точек (точек привязки зонда). www.electronics.ru
• Сканирующий туннельный микроскоп. web.snauka.ru Предназначен для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением. web.snauka.ru В СТМ острая металлическая игла проводится над образцом на очень малом расстоянии. web.snauka.ru При подаче на иглу небольшого тока между ней и образцом возникает туннельный ток, величину которого фиксирует регистрирующая система. web.snauka.ru
• Сканирующий атомно-силовой микроскоп. web.snauka.ru Используется для построения структуры поверхности образца с разрешением до атомарного. web.snauka.ru С помощью этого микроскопа можно исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. web.snauka.ru
• Ближнепольный оптический микроскоп. web.snauka.ru Обеспечивает разрешение лучше, чем у обычного оптического. web.snauka.ru Повышение разрешения достигнуто путём улавливания света от изучаемого объекта на расстояниях меньших, чем длина волны. web.snauka.ru