Возможно, имелись в виду методы визуализации, которые используются в просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ). 2 Некоторые из них:

• Дифракционный контраст. 2 Метод чувствителен к кристаллографическим изменениям фазы и толщины образца. 2
• Фазовый контраст. 2
• Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия (СПЭМ). 2 Подходит для визуализации толстых образцов (более 200 нм). 2
• STEM-HAADF-исследование или метод кольцевого тёмного поля при больших углах. 2 Используется для визуализации межфазных дефектов. 2

На сайте sciencephoto.com представлено изображение бактерий Sarcina, полученное с помощью сканирующего электронного микроскопа (SEM). 1