Какие методы используются для статистического анализа вероятности неисправности электронных устройств?

Для статистического анализа вероятности неисправности электронных устройств используются различные методы, например:

• Статистические методы прогнозирования. 1 Они позволяют на основе полученных статистических данных об устройстве с помощью математических методов получить правило для отбраковки потенциально ненадёжных экземпляров или отбора экземпляров повышенного уровня надёжности. 1
• Метод имитационных воздействий. 1 По реакции функционального параметра устройства на имитационное воздействие в начальный момент времени, например на температуру, делается прогноз значения параметра на заданный будущий момент времени. 1
• Физико-статистические модели деградации. 1 Они позволяют с вероятностной точки зрения описать поведение функционального параметра выборки изделий для заданной наработки. 1
• Статистический метод STAFAN. 4 Позволяет получить оценку полноты тестовой последовательности без моделирования всех неисправностей. 4 Для этого используются данные, полученные при логическом моделировании исправной схемы, и собирается статистика данных моделирования на внутренних линиях схемы. 4