Какие методы используются для статистического анализа вероятности неисправности электронных устройств?

Для статистического анализа вероятности неисправности электронных устройств используются различные методы, например:

• Статистические методы прогнозирования. libeldoc.bsuir.by Они позволяют на основе полученных статистических данных об устройстве с помощью математических методов получить правило для отбраковки потенциально ненадёжных экземпляров или отбора экземпляров повышенного уровня надёжности. libeldoc.bsuir.by
• Метод имитационных воздействий. libeldoc.bsuir.by По реакции функционального параметра устройства на имитационное воздействие в начальный момент времени, например на температуру, делается прогноз значения параметра на заданный будущий момент времени. libeldoc.bsuir.by
• Физико-статистические модели деградации. libeldoc.bsuir.by Они позволяют с вероятностной точки зрения описать поведение функционального параметра выборки изделий для заданной наработки. libeldoc.bsuir.by
• Статистический метод STAFAN. intuit.ru Позволяет получить оценку полноты тестовой последовательности без моделирования всех неисправностей. intuit.ru Для этого используются данные, полученные при логическом моделировании исправной схемы, и собирается статистика данных моделирования на внутренних линиях схемы. intuit.ru