Какие методы используются для определения параллельности измерительных поверхностей микрометров?

Для определения параллельности измерительных поверхностей микрометров используют следующие методы:

• Интерференционный метод. ohranatruda.ru ikgost.ru Для микрометров с верхним пределом измерения до 100 мм применяют четыре стеклянные плоскопараллельные пластины, размеры которых отличаются друг от друга на значение, соответствующее ¼ оборота микрометрического винта. ohranatruda.ru ikgost.ru Пластину помещают между измерительными поверхностями микрометра и определяют общее число интерференционных полос на обеих поверхностях. ohranatruda.ru Одна полоса соответствует отклонению от параллельности 0,3 мкм. ohranatruda.ru
• Метод цилиндрических валиков. ohranatruda.ru Для микрометров типа MP3 используют четыре цилиндрических валика, диаметры которых отличаются друг от друга на 0,11–0,14 мм. ohranatruda.ru Валик последовательно помещают между измерительными поверхностями в положения 1, 2, 3, 4. ohranatruda.ru Отклонение от параллельности определяют как наибольшую разность показаний отсчетного устройства при четырёх положениях меры. ohranatruda.ru
• Метод концевых мер длины. ohranatruda.ru oei-analitika.ru Для микрометров с верхним пределом измерения более 100 мм используют концевые меры длины или блоки мер, размеры которых отличаются друг от друга на значение, соответствующее ¼ оборота микрометрического винта. oei-analitika.ru podiapazon.ru Меру или блок последовательно устанавливают между измерительными поверхностями в положения 1, 2, 3, 4. oei-analitika.ru Отклонение от параллельности определяют как наибольшую разность показаний отсчетного устройства при четырёх положениях меры. gostassistent.ru