Для измерения фотолюминесценции в полупроводниках используются различные методы, например:

• Классическая фотолюминесцентная спектроскопия. 1 Изучаемый образец облучается в видимом, инфракрасном или ультрафиолетовом диапазоне. 1 Спектр излученных волн анализируется с помощью системы, состоящей из монохроматора, фотоэлектронного умножителя, АЦП и вычислительной машины. 1
• Микро-фотолюминесцентная спектроскопия. 2 Модификация классической методики для изучения микро- и нанообъектов размером, не превышающих несколько микрометров. 2 Для фокусировки лазерного луча на отдельно взятом нанообъекте используется оптический объектив с 20–100-кратным увеличением. 2
• Время-разрешённая фотолюминесцентная спектроскопия (Time-resolved PL, TRPL). 1 Возбуждение образца производится короткими лазерными импульсами, а измеряется затухание испущенного образцом излучения во времени. 1 Результатом измерений является двумерная картина зависимости интенсивности излучения от времени и его длины волны. 1
• Фотолюминесцентная спектроскопия возбуждения (PLE). 1 Отличается от классического тем, что образец возбуждается не на одной длине волны (то есть одним лазером), а последовательно различными длинами волн, в то время как детектируется излучение только на какой-то одной длине волны. 1
• Низкотемпературная фотолюминесцентная спектроскопия. 2 Измерения проводятся при различных температурах (как правило, ниже комнатной), в частности при температуре жидкого гелия (4К). 2