С помощью рентгеновской дифракции (рентгеноструктурного анализа) можно анализировать различные материалы и вещества, в том числе:

• Металлы и сплавы. 35 Обычно имеют простые структуры, но могут возникать сложности из-за текстуры (преимущественной ориентации зёрен) и остаточных напряжений. 5
• Керамические материалы. 5 Часто имеют сложные структуры с большими элементарными ячейками, что приводит к перекрыванию пиков на дифрактограммах. 5
• Полимеры. 15 Характеризуются низкой степенью кристалличности, что даёт широкие размытые пики. 5
• Фармацевтические препараты. 5 Могут существовать в разных полиморфных модификациях, что критично для их свойств. 5
• Нанокристаллические материалы. 15 Дают сильно уширенные пики из-за малого размера кристаллитов. 5
• Аморфные материалы. 13 Спектр рентгеновской дифракции таких веществ представляет собой прямую линию. 2
• Жидкости и газы. 13
• Молекулы (например, белков, нуклеиновых кислот). 13

Метод рентгеновской дифракции универсален и подходит для работы как с массивными образцами, так и с микропробами. 4