Для анализа надёжности электронных компонентов используются, например, следующие математические модели:

• Математическая модель зависимости показателей надёжности от влияющих факторов. 1 В ней учитываются базовая интенсивность отказов электронных элементов, коэффициент режима, учитывающий изменение интенсивности отказов в зависимости от электрической нагрузки и (или) температуры окружающей среды, а также коэффициенты, учитывающие изменения эксплуатационной интенсивности отказов от различных факторов. 1
• Марковская модель. 2 С её помощью представляют поведение системы, определяют все возможные состояния системы и интенсивности перехода из одного состояния в другое (интенсивности отказа или ремонта, интенсивности события и т. д.). 2
• Экспоненциальная модель распределения времени до отказа. 4 На её основе оценивают характеристики надёжности электронных компонентов в режиме ожидания. 4
• Анализ дерева неисправностей (FTA). 2 Метод используют для исследования потенциальных неисправностей, их режимов и причин, чтобы определить количественную оценку их вклада в отказ системы при проектировании. 2

Также для анализа надёжности электронных компонентов применяют вероятностные методы теории надёжности, которые помогают выявить и описать физико-химические процессы и явления, влияющие на надёжность и приводящие к отказам. 5