Какие инновации и технологические достижения наблюдаются в области сканирующей электронной микроскопии?

Некоторые инновации и технологические достижения в области сканирующей электронной микроскопии (СЭМ):

• Автоматизация с использованием искусственного интеллекта (ИИ). www.kingsresearch.com ИИ регулирует параметры визуализации, распознаёт закономерности и улучшает разрешение в режиме реального времени. www.kingsresearch.com Это повышает эффективность и воспроизводимость. www.kingsresearch.com Например, в апреле 2024 года учёные из Манчестерского университета объявили о разработке Automatem — первого в мире аналитического электронного микроскопа, интегрирующего ИИ и автоматизированные рабочие процессы. www.kingsresearch.com
• Интеграция СЭМ с дополнительными методами визуализации. www.kingsresearch.com Исследователи и отрасли промышленности всё чаще используют СЭМ вместе с энергодисперсионной рентгеновской спектроскопией (EDS), сфокусированным ионным лучом (FIB) и просвечивающей электронной микроскопией (TEM). www.kingsresearch.com Это позволяет получить более полное понимание материалов в нескольких масштабах. www.kingsresearch.com
• Использование электронной пушки с катодом с полевой эмиссией. sev-in.ru Высокая яркость пучка электронов позволяет за короткое время получать насыщенные изображения с хорошим отношением сигнал/шум при больших увеличениях. sev-in.ru Это особенно важно при исследовании образцов с тонкой структурой поверхности, например биологических объектов. sev-in.ru
• Применение технологии 3D Beam. sev-in.ru Она даёт возможность работать с «живыми» стереоизображениями микро– и нанообъектов в реальном времени, что незаменимо при анализе образцов со сложной топографией. sev-in.ru