Как статистическое управление процессами может применяться в производстве микроэлектроники?

Статистическое управление процессами в производстве микроэлектроники может применяться для решения различных задач, среди которых:

• Контроль качества технологического процесса производства интегральных микросхем. new-disser.ru Статистические данные позволяют оценивать качество, надёжность и уровень технологии. new-disser.ru
• Сравнительная оценка различных конструктивно-технологических решений. new-disser.ru Статистические модели позволяют рассмотреть с единых позиций данные по изделиям, которые отличаются степенью интеграции, правилами проектирования и технологическим маршрутом изготовления. new-disser.ru
• Прогнозирование характеристик вновь разрабатываемых изделий. new-disser.ru Статистические модели помогают предсказывать, как изменения в технологии или номенклатуре изделий повлияют на технико-экономические показатели полупроводникового производства. new-disser.ru
• Оптимизация экономической деятельности полупроводникового производства. new-disser.ru

Некоторые способы применения статистического управления процессами в производстве микроэлектроники:

• Сбор и обработка информации. applphys.orion-ir.ru Специальное программное обеспечение позволяет собирать и обрабатывать данные в статистически значимых количествах, выстраивать корреляции между параметрами и их группами, осуществлять мониторинг изменения параметров во времени. applphys.orion-ir.ru
• Контроль изделий. cchgeu.ru При изготовлении микроэлектроники часто имеют дело с партиями ограниченного объёма. cchgeu.ru Статистический контроль позволяет по абсолютным значениям параметров изделий судить об управляемости и стабильности технологического процесса. cchgeu.ru
• Корректировка технологического процесса. www.dissercat.com Статистическое управление помогает корректировать процесс при возникновении перерывов в производстве или изменении номенклатуры выпускаемых изделий. www.dissercat.com