Как с помощью просвечивающего электронного микроскопа можно исследовать дефекты кристаллической решетки?

С помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) дефекты кристаллической решётки исследуют методом дифракционного контраста. xn--e1alhsoq4c.xn--p1ai

При прохождении электронного пучка через фольгу на экране микроскопа или фотопластинки формируется изображение картины микродифракции исследуемого вещества. www.geokniga.org Она получается в результате отражений электронного пучка от плоскостей кристаллической решётки и её дефектов. www.geokniga.org

В случае идеальной кристаллической решётки, в которой дефекты отсутствуют, картина микродифракции должна быть строго точечной. www.geokniga.org Наличие дефектов приводит к размытию рефлексов, их раздвоению, что отражается на картине микродифракции. www.geokniga.org

Также для исследования дефектов кристаллической решётки используют амплитудный контраст. sernia.ru Он образуется в результате выделения одного конкретного рефлекса из общей дифракционной картины. sernia.ru При этом прямой пучок окажется на экране светлым, а тот, который отклонился (дифрагированный) — тёмным. sernia.ru Неоднородности указывают на дефекты кристаллической решётки. sernia.ru

Ещё один метод — фазовый контраст. sernia.ru Он образуется при многопучковой электронной дифракции как результат уменьшения или увеличения амплитуды волн с разным сдвигом по фазе. sernia.ru Позволяет определять ориентацию кристаллических решёток разных фаз образца, дефекты решёток. sernia.ru