С помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) дефекты кристаллической решётки исследуют методом дифракционного контраста. 4

При прохождении электронного пучка через фольгу на экране микроскопа или фотопластинки формируется изображение картины микродифракции исследуемого вещества. 3 Она получается в результате отражений электронного пучка от плоскостей кристаллической решётки и её дефектов. 3

В случае идеальной кристаллической решётки, в которой дефекты отсутствуют, картина микродифракции должна быть строго точечной. 3 Наличие дефектов приводит к размытию рефлексов, их раздвоению, что отражается на картине микродифракции. 3

Также для исследования дефектов кристаллической решётки используют амплитудный контраст. 1 Он образуется в результате выделения одного конкретного рефлекса из общей дифракционной картины. 1 При этом прямой пучок окажется на экране светлым, а тот, который отклонился (дифрагированный) — тёмным. 1 Неоднородности указывают на дефекты кристаллической решётки. 1

Ещё один метод — фазовый контраст. 1 Он образуется при многопучковой электронной дифракции как результат уменьшения или увеличения амплитуды волн с разным сдвигом по фазе. 1 Позволяет определять ориентацию кристаллических решёток разных фаз образца, дефекты решёток. 1