Электронная микроскопия постоянно развивается. 3 Некоторые направления развития:

• Повышение разрешающей способности микроскопов. 1 Это достигается совершенствованием электронной оптики и применением новых видов электронных пушек. 1 Например, замена традиционных вольфрамовых термокатодов на ориентированные катоды из LaB6 позволила повысить электронную яркость пушек в 5–7 раз. 1
• Развитие способов подготовки образцов. 1 Особенно активно это происходит в области электронно-микроскопического исследования структуры полимерных материалов и влагосодержащих объектов. 1 Для этого разрабатывают криогенные методы, которые позволяют избежать нарушений структуры и локального состава образцов. 1
• Разработка методов компьютерной обработки полученных изображений. 1 Это помогает выявить содержащуюся в них количественную информацию о структуре объекта. 1 Например, изображения можно запоминать, корректировать контрастность, добавлять оттенки цветов, выделять микроструктуры, убирать шумы, выделять границы исследуемых участков. 3
• Автоматизация электронных микроскопов и соединённой с ними аналитической аппаратуры. 1

Некоторые новые методы электронной микроскопии:

• Микроскопия сверхвысокого разрешения (ФИЛ-СЭМ). 6 Клетка помещается в блок из смолы, «лишние» части которого удаляются. 6 Затем фокусированный ионный луч снимает с образца слой за слоем, а каждый срез фотографируется сканирующим электронным микроскопом. 6 В результате компьютер объединяет все полученные срезы в одну трёхмерную модель клетки. 6
• Методика наблюдения слоёв пространственного заряда в материалах аккумуляторов. 4 Её разработали исследователи из Токийского университета в рамках проекта SHIBATA Ultra-atomic Resolution Electron Microscopy. 4 Методика позволяет одновременно наблюдать структуры атомного масштаба и распределения электромагнитного поля в диапазоне температур от экстремально низких до высоких температур. 4