Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ) и трансмиссионная (ТЭМ) отличаются по типу получаемого изображения. 1

СЭМ даёт изображение поверхности (объект выглядит объёмным). 1 В процессе сканирования сфокусированным пучком электронов по поверхности образца происходит эмиссия вторичных электронов, которые регистрируются детектором. 3

ТЭМ даёт плоское изображение среза «на просвет». 1 Электроны от пушки фокусируются магнитными линзами и, проходя через сверхтонкий образец, попадают на флуоресцентный экран. 4

Таким образом, основное отличие в том, что СЭМ изучает поверхность образца, а ТЭМ — его срез. 41